Análisis de la contaminación por partículas en componentes con identificación total y clasificación de las mismas.
Con el microscopio electrónico de barrido, Phenom XL, con EDS es posible hacer un análisis totalmente automatizado con la total identificación y clasificación de partículas en función de su composición química.
El sistema permite revisitar partículas a partir del informe generado al final de cada análisis y clasificar las partículas, no solo por su morfología, si no también por su composición química, dando información sobre la naturaleza de las partículas encontradas (partículas de acero, aluminio, minerales, vidrio, etc...)
El Phenom Particle X TC es el sistema más rápido y fiable para identificar partículas y asegurar los criterios de las normas ISO 16232 y VDA 19.
Análisis de la contaminación por partículas en componentes con identificación total y clasificación de las mismas.
Con el microscopio electrónico de barrido, Phenom XL, con EDS es posible hacer un análisis totalmente automatizado con la total identificación y clasificación de partículas en función de su composición química.
El sistema permite revisitar partículas a partir del informe generado al final de cada análisis y clasificar las partículas, no solo por su morfología, si no también por su composición química, dando información sobre la naturaleza de las partículas encontradas (partículas de acero, aluminio, minerales, vidrio, etc...)
El Phenom Particle X TC es el sistema más rápido y fiable para identificar partículas y asegurar los criterios de las normas ISO 16232 y VDA 19.